Estudo e caracterização de películas de silício amorfo por espectroscopia de infravermelhos / Maria Manuela de Almeida Carvalho Vieira
Publication: Lisboa : CFM - Laboratório de Microelectrónica e Conversão de Energia, 1988Description: [pag. var.] : il. ; 30 cm.Subject - Topical Name: Ciência dos materiais | Teses / Dissertações | Deposição das películas | Análise do espectro | Silício amorfo| Item type | Current location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds |
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| Tese | Biblioteca do ISEL | VIE. 620(043) (Browse shelf) | Not for loan | 1026610 |
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Dissertação apresentada às Universidades de Lisboa para obtenção do título de Mestre em Física;Tese de Mestrado em Física do Estado Sólido
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