VIEIRA, Maria Manuela de Almeida Carvalho
Estudo e caracterização de películas de silício amorfo por espectroscopia de infravermelhos / Maria Manuela de Almeida Carvalho VieiraLisboa : CFM - Laboratório de Microelectrónica e Conversão de Energia, 1988[pag. var.] : il. ; 30 cm..
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Estudo e caracterização de películas de silício amorfo por espectroscopia de infravermelhos / Maria Manuela de Almeida Carvalho VieiraLisboa : CFM - Laboratório de Microelectrónica e Conversão de Energia, 1988[pag. var.] : il. ; 30 cm..
Dissertação apresentada às Universidades de Lisboa para obtenção do título de Mestre em Física;Tese de Mestrado em Física do Estado Sólido.
620(043)
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Tipo de Documento | Biblioteca Localização | Cota | Nº de Registo | Código de Barras | Numeração (volume ou outra parte) | Notas Públicas | Data de Empréstimo | Data de Devolução | Estatuto de Item Retirado |
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Tese | Biblioteca do ISEL Biblioteca do ISEL | VIE. 620(043) | 1248 | 1026610 |