GUSEV, Evgeni
Defects in high-k gate dielectric stacks [Documento electrónico] : nano-electronic semiconductor devices / Evgeni GusevDordrecht : Springer, 2006E-book(NATO Science Series II, Mathematics, Physics and Chemistry; 220).
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Defects in high-k gate dielectric stacks [Documento electrónico] : nano-electronic semiconductor devices / Evgeni GusevDordrecht : Springer, 2006E-book(NATO Science Series II, Mathematics, Physics and Chemistry; 220).
Acesso ao documento electrónico no ISEL.
978-1-4020-4367-3
62
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Tipo de Documento | Biblioteca Localização | Cota | Nº de Registo | Código de Barras | Numeração (volume ou outra parte) | Notas Públicas | Data de Empréstimo | Data de Devolução | Estatuto de Item Retirado |
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