SACHDEV, Manoj
Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits [Documento electrónico] / Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez2nd edDordrecht : Springer, 2007E-book(Frontiers In Electronic Testing ; 34).
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Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits [Documento electrónico] / Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez2nd edDordrecht : Springer, 2007E-book(Frontiers In Electronic Testing ; 34).
Acesso ao documento electrónico no ISEL.
978-0-387-46547-0
62
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Tipo de Documento | Biblioteca Localização | Cota | Nº de Registo | Código de Barras | Numeração (volume ou outra parte) | Notas Públicas | Data de Empréstimo | Data de Devolução | Estatuto de Item Retirado |
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