HUISMAN, Leendert M.
Data mining and diagnosing IC fails [Documento electrónico] / Leendert M. HuismanNew York : Springer, 2005E-book(Frontiers In Electronic Testing; 31).
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Data mining and diagnosing IC fails [Documento electrónico] / Leendert M. HuismanNew York : Springer, 2005E-book(Frontiers In Electronic Testing; 31).
Acesso ao documento electrónico no ISEL.
978-0-387-26351-9
62
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Tipo de Documento | Biblioteca Localização | Cota | Nº de Registo | Código de Barras | Numeração (volume ou outra parte) | Notas Públicas | Data de Empréstimo | Data de Devolução | Estatuto de Item Retirado |
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