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100 | _a20060823d2006 k 0pory50 ba | ||
200 | 1 |
_aThin film analysis by X-ray scattering _fMario Birkholz _gcontrib. Paul F. Fewster, Christoph Genzel |
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210 |
_aWeinheim _cWILEY-VCH _d2006 |
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215 |
_aXXII, 356 p. _cil. _d25 cm. |
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606 |
_912928 _aFísica da matéria condensada |
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606 |
_913385 _aRaio-x |
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606 |
_913129 _aDifracção |
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675 | _a538.9 | ||
700 | 1 |
_aBIRKHOLZ _bMario _910543 |
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852 |
_aISEL _bBiblioteca Central _gBIR. _j538.9 |
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942 | _cMO |