| 000 | 00993nam a2200229 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 18565 | ||
| 005 | 20170630163010.0 | ||
| 090 | _a18565 | ||
| 100 | _a20140520d1988 0pory50 ba | ||
| 200 | 1 |
_aEstudo e caracterização de películas de silício amorfo por espectroscopia de infravermelhos _fMaria Manuela de Almeida Carvalho Vieira |
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| 210 |
_aLisboa _cCFM - Laboratório de Microelectrónica e Conversão de Energia _d1988 |
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| 215 |
_a[pag. var.] _cil. _d30 cm. |
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| 300 | _aDissertação apresentada às Universidades de Lisboa para obtenção do título de Mestre em Física;Tese de Mestrado em Física do Estado Sólido | ||
| 606 |
_910304 _aCiência dos materiais |
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| 606 |
_917589 _aTeses / Dissertações |
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| 606 |
_922679 _aDeposição das películas |
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| 606 |
_916103 _aAnálise do espectro |
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| 606 |
_922680 _aSilício amorfo |
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| 675 | _a620(043) | ||
| 700 | 1 |
_aVIEIRA _bMaria Manuela de Almeida Carvalho _922681 |
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| 852 |
_aISEL _bBiblioteca Central _gVIE. _j620(043) |
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| 942 | _cTES | ||