Extracção lógica para análise de testabilidade de circuitos digitais CMOS / Mário Henrique Carrasqueira Simões ; orient. Isabel Maria Silva Nobre Parreira Cacho Teixeira
Publication: Lisboa : UTL - Instituto Superior Técnico, 1994Description: XVII, 114 p. : il. ; 30 cm.Subject - Topical Name: Electrónica | Teses / Dissertações | Circuitos integrados digitais CMOS | Teste de circuitos integrados | Vectores de teste| Item type | Current location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds |
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| Tese | Biblioteca do ISEL | SIM. 621.38(043) (Browse shelf) | Not for loan | 1026580 |
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Dissertação para obtenção do grau de mestre em Engenharia Electrotécnica e de Computadores
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