Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
Publication: New York : IEEE Press, 1990Description: XVII, 652 p. : il.ISBN: 0-7803-1062-4.Subject - Topical Name: Electrónica digital | Sistemas digitais | Geração de teste | Simulação de falhas | Teste de falhas | Simulação lógica Online Resources:Acesso online| Item type | Current location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds |
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| Livro | Biblioteca do ISEL | ABR. 621.38Dig (Browse shelf) | Available | 1009801 | ||
| Livro Interdito | Biblioteca do ISEL | ABR. 621.38Dig (Browse shelf) | Not for loan | 1007318 |
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