GOLDSTEIN, Joseph I.
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein... [et al.]3rd edNew York : Springer, 2003XIX, 690 p. : il. ; 26 cm. + CD-ROM.
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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein... [et al.]3rd edNew York : Springer, 2003XIX, 690 p. : il. ; 26 cm. + CD-ROM.
978-0-306-47292-3
620.18
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Tipo de Documento | Biblioteca Localização | Cota | Nº de Registo | Código de Barras | Numeração (volume ou outra parte) | Notas Públicas | Data de Empréstimo | Data de Devolução | Estatuto de Item Retirado |
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