BIRKHOLZ, Mario
Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz ; contrib. Paul F. Fewster, Christoph GenzelWeinheim : WILEY-VCH, 2006XXII, 356 p. : il. ; 25 cm..
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Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz ; contrib. Paul F. Fewster, Christoph GenzelWeinheim : WILEY-VCH, 2006XXII, 356 p. : il. ; 25 cm..
3-527-31052-5
538.9
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Tipo de Documento | Biblioteca Localização | Cota | Nº de Registo | Código de Barras | Numeração (volume ou outra parte) | Notas Públicas | Data de Empréstimo | Data de Devolução | Estatuto de Item Retirado |
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Livro | Biblioteca do ISEL Biblioteca do ISEL | BIR. 538.9 | 23430 | 1020194 |